BSA125C 泰克Tektronix 誤碼儀
關(guān)鍵性能指標
模式生成與誤差分析,高速誤碼率測量,最高可達 28.6 Gb/s
用于精確信號完整性分析的快速輸入上升時間/高輸入帶寬誤差檢測器
物理層測試套件,包含掩模測試、抖動峰值、誤碼率輪廓和Q因子分析,可使用標準或用戶自定義的抖動容限模板庫進行全面測試
結(jié)合誤碼率相關(guān)性的眼圖分析
可選的抖動圖全面抖動分解 - 適用于長模式(例如 PRBS-31)抖動
利的“錯誤定位分析?”功能可幫助您快速了解誤碼率 (BER) 性能瓶頸,評估確定性錯誤與隨機錯誤,執(zhí)行詳細的模式相關(guān)錯誤分析、突發(fā)錯誤分析或無錯誤間隔分析。
主要特點
集成式、校準式應(yīng)力生成裝置,可滿足各種標準對受壓接收機靈敏度和時鐘恢復抖動容限的測試要求。
正弦抖動高達 100 MHz
隨機抖動
有界、不相關(guān)的抖動
正弦干擾
擴頻時鐘
PCIe 2.0 和 3.0 接收器測試
8xFC 和 10GBASE-KR 測試的 F/2 抖動生成
IEEE802.3ba 和 32G 光纖通道測試
電刺激眼部測試
PCI Express
10/40/100 Gb 以太網(wǎng)
SFP+/SFI
OIF/IEC
光纖通道(FC8、FC16、FC32)
小時
USB 3.1
InfiniBand(SDR、QDR、FDR、EDR)
公差合規(guī)性模板測試及裕度測試
結(jié)合誤碼率相關(guān)性的眼圖分析
應(yīng)用程序
設(shè)計驗證包括信號完整性、抖動和時序分析
高速、復雜設(shè)計的特性分析
串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的認證測試
高速I/O組件和系統(tǒng)的設(shè)計/驗證
信號完整性分析——掩模測試、抖動峰值、誤碼率輪廓、抖動圖和Q因子分析
光收發(fā)器的設(shè)計/驗證
鏈接域
眼圖一直以來都能以簡單直觀的方式展現(xiàn)數(shù)字性能。然而,由于用于呈現(xiàn)兩者性能的儀器在架構(gòu)上存在根本差異,因此很難將眼圖與誤碼率 (BER) 性能直接關(guān)聯(lián)起來。眼圖所包含的數(shù)據(jù)量較淺,難以發(fā)現(xiàn)罕見事件。而誤碼率測試儀 (BERT) 則對每個比特進行計數(shù),因此能夠基于更豐富的數(shù)據(jù)集提供測量結(jié)果,但卻缺乏直觀的信息呈現(xiàn)方式,不利于故障排除。
BERTScope 彌補了這一差距,讓您能夠快速輕松地查看基于至少比傳統(tǒng)眼圖多兩個數(shù)量級數(shù)據(jù)的眼圖。當您發(fā)現(xiàn)異常特征時,可以將光標放置在感興趣的項目上,只需移動 BERT 的采樣點,即可利用強大的誤差分析功能深入了解該特征。例如,檢查最新上升沿的模式敏感性?;蛘?,使用一鍵式 BER 輪廓測量功能,查看性能問題是否處于可控范圍內(nèi),或者是否可能導致現(xiàn)場出現(xiàn)嚴重故障。在每種情況下,您都可以輕松獲取信息以增強建模或輔助故障排除,并且支持高達 231 - 1 PRBS 的模式。
數(shù)據(jù)豐富的眼圖
如前所述,傳統(tǒng)眼圖與使用 BERTScope 獲取的眼圖在數(shù)據(jù)深度上存在顯著差異。這意味著什么呢?這意味著您可以更清晰地看到系統(tǒng)運行的真實情況——當您將長信號通過任何類型的色散系統(tǒng)、產(chǎn)生隨機噪聲或 VCO 隨機抖動時,都會出現(xiàn)更多低概率事件——這些事件會在您的設(shè)計部署時伺機而動,讓您措手不及。此外,BERTScope 還提供一鍵式 BER 輪廓、抖動峰值和 Q 因子測量,讓您能夠更深入地了解系統(tǒng)運行狀況,從而確保獲得完整的系統(tǒng)信息。
圖中所示為啟用光學單元的 BERTScope。在本例中,測量結(jié)果會自動轉(zhuǎn)換為光域測量值。
深度口罩測試
由于能夠調(diào)節(jié)采樣深度,因此可以輕松地在深度測量(能夠更準確地反映系統(tǒng)實際性能)和淺層測量(與采樣示波器的測量結(jié)果相匹配)之間切換。下圖所示的測量結(jié)果來自光發(fā)射器的眼圖。當 BERTScope 的采樣深度設(shè)置為僅 3000 個波形時,BERTScope 僅需 1 秒即可生成中間所示的眼圖。測得的 20% 掩模裕量與在采樣示波器上進行的相同測量結(jié)果完全一致。下圖顯示了同一設(shè)備在誤碼率 (BER) 為 1×10?? 時,使用“符合性輪廓”測量方法生成的眼圖。此時,掩模裕量降低至 17%。
對于眼圖而言,深度優(yōu)勢在掩模測試中至少提升了 10 倍。與某些 BERT 提供的偽掩模測試不同,BERTScope 掩模測試會對行業(yè)標準掩模周長上的每個點進行采樣,包括眼睛上方和下方的區(qū)域。不僅如此,每個點都會被測試到前所未有的深度。這意味著,即使使用標準掩模庫中的掩?;蚰约簞?chuàng)建的掩模進行幾秒鐘的測試,您也可以確保您的設(shè)備不存在任何潛在問題。
符合行業(yè)標準的精確抖動測試
無論使用長短模式進行測試,最精確的抖動測量結(jié)果往往來自那些幾乎不使用或完全不使用外推法的測量方法。使用 BERTScope,您可以快速測量到 1×10?? 的抖動水平(在高數(shù)據(jù)速率下可達 1× 10?1?),或者等待儀器直接測量到 1×10?12 的抖動水平。無論哪種方式,BERTScope 的一鍵式測量都符合 MJSQ 抖動方法,并且由于其底層延遲控制是所有 BERT 中最佳的,因此您可以確保測量結(jié)果的準確性。您可以使用內(nèi)置的總抖動 (TJ)、隨機抖動 (RJ) 和確定性抖動 (DJ) 計算公式,也可以輕松導出數(shù)據(jù)并使用您自己喜歡的抖動模型。
BSA286CL 的低固有 RJ 支持同時進行 802.3ba 的 VECP(垂直眼圖閉合懲罰)和 J2/J9 校準,并具有充分表征 100G 以太網(wǎng)芯片所需的寶貴裕量。
面罩順應(yīng)性輪廓測試
許多標準,例如 XFP/XFI 和 OIF CEI,現(xiàn)在都規(guī)定了掩模測試,旨在確保達到指定的 1×10?12眼圖張開度。合規(guī)性輪廓視圖通過將掩模疊加到您測量的誤碼率 (BER) 輪廓上,簡化了這一過程——這樣您就可以立即查看是否在您設(shè)定的任何 BER 水平下通過了掩模測試。
快速選購指南
模型 最大比特率 眼睛疲勞 - SJ、RJ、BUJ、SI
BSA286CL 28.6 Gbps STR 選項。
BSA175C 17.5 Gbps STR 選項。
BSA125C 12.5 Gbps STR 選項。
靈活打卡
BERTScope 的發(fā)生器時鐘路徑功能為新興的實際設(shè)備提供了所需的測試靈活性。無論是計算機卡還是磁盤驅(qū)動器,通常都需要提供低于系統(tǒng)速率的時鐘,例如 PCI Express? (PCIe) 的 100 MHz 時鐘。為了使目標卡正常運行,可能需要具有特定幅度和偏移量的差分時鐘信號;BERTScope 架構(gòu)可以輕松實現(xiàn)這一點,并提供多種靈活的分頻比。
BERTScope Option STR 模型中的時鐘路徑
擴頻時鐘 (SSC) 常用于串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)中,通過分散功率頻譜來降低電磁干擾 (EMI) 能量。可調(diào)節(jié)的調(diào)制幅度、頻率以及三角波或正弦波調(diào)制波形的選擇,使得用戶能夠根據(jù)任何采用 SSC 的合規(guī)性標準測試接收機。此外,用戶還可以通過附加的調(diào)制器和信號源,利用高幅度、低頻率的正弦抖動 (SJ) 對時鐘進行壓力測試。
閉眼工作
隨著數(shù)據(jù)傳輸速率的不斷提高,頻率相關(guān)的損耗常常導致接收端出現(xiàn)眼圖閉合現(xiàn)象。工程師們通過均衡技術(shù)來補償這些損耗,從而在實際系統(tǒng)中“打開眼圖”。泰克科技提供強大的工具,使設(shè)計人員能夠?qū)@些系統(tǒng)中使用的接收器和發(fā)射器組件的特性進行表征和測試。
秉承 BERTScope 的設(shè)計理念,圖形用戶界面以邏輯清晰、易于理解的方式呈現(xiàn)控制功能。響應(yīng)的時域表示顯示了抽頭權(quán)重設(shè)置的影響。頻域波特圖則展示了濾波器如何補償信道損耗。
對于接收機測試,DPP125C 數(shù)字預加重處理器會將校準后的預加重信號添加到 BERTScope 模式發(fā)生器的輸出信號中,模擬在發(fā)射機端應(yīng)用的預加重效果。預加重技術(shù)目前應(yīng)用于 10GBASE-KR、PCIe、SAS 12 Gb/s、DisplayPort? 、 USB 3.1 等標準中。
特征:
1-12.5 Gb/s 時鐘頻率
3鍵或4鍵版本
靈活的光標放置方式,允許光標位于光標之前或之后
選項 ECM(開眼器、時鐘倍頻器、時鐘倍增器)
PatternVu
PatternVu 選項包含一個軟件實現(xiàn)的 FIR 濾波器,可插入到眼圖顯示之前。在采用接收器均衡的系統(tǒng)中,這允許您查看眼圖并對眼睛進行物理測量,就像接收器檢測器在均衡器處理后看到的那樣。最多可實現(xiàn) 32 個抽頭的均衡器,用戶可以為每個用戶界面選擇抽頭分辨率。
PatternVu
PatternVu 還包含 CleanEye 功能,這是一種模式鎖定平均系統(tǒng),可以消除圖像中不確定的抖動成分。這使得您可以清晰地看到與模式相關(guān)的效應(yīng),例如 ISI(符號間干擾),這些效應(yīng)通常會被大量的隨機抖動所掩蓋。
單值波形導出是 PatternVu 選項中的一個組件。它允許您捕獲顯示單個比特的模式鎖定波形,類似于實時示波器中的單次捕獲。捕獲后,波形可以導出為多種格式,以便在外部程序中進行進一步分析。
添加時鐘恢復
泰克CR125A、CR175A和CR286A在符合標準的時鐘恢復方面提供了更高的靈活性。大多數(shù)要求進行抖動測量的標準都規(guī)定了時鐘恢復的使用,并明確規(guī)定了必須使用的環(huán)路帶寬。使用不同的或未知的環(huán)路帶寬幾乎肯定會導致抖動測量結(jié)果不準確。新型時鐘恢復儀器能夠輕松、準確地進行符合所有常用標準的測量。
直觀的用戶界面可輕松控制所有運行參數(shù)。獨特的回路響應(yīng)視圖顯示回路特性——實際測量值,而不僅僅是設(shè)定值。
BERTScope CR 的用途不僅限于 BERTScope 測量。您可以在實驗室中將其與采樣示波器或現(xiàn)有的 BERT 設(shè)備配合使用。將這兩款功能強大的儀器與您現(xiàn)有的設(shè)備結(jié)合使用,即可獲得符合規(guī)范的測量結(jié)果
顯示和測量SSC調(diào)制
擴頻時鐘 (SSC) 技術(shù)被包括 SATA、PCI Express 和新一代 SAS 在內(nèi)的許多最新串行總線所采用,以降低新電路板和系統(tǒng)設(shè)計中的電磁干擾 (EMI) 問題。泰克 CR 系列產(chǎn)品提供擴頻時鐘恢復功能,并可顯示和測量 SSC 調(diào)制波形。自動測量功能包括最小和最大頻率偏差(單位為 ppm 或 ps)、調(diào)制變化率 (dF/dT) 和調(diào)制頻率。此外,它還顯示標稱數(shù)據(jù)頻率,并配備易于使用的垂直和水平光標。
SSC波形測量
添加抖動分析
將泰克CR125A、CR175A或CR286A分別與選件12GJ、17GJ和28GJ配合使用,并連接到您的采樣示波器或BERTScope,即可實現(xiàn)1.2至11.2 Gb/s的可變時鐘恢復、占空比失真(DCD)測量以及實時抖動頻譜分析。顯示200 Hz至90 MHz的抖動頻譜分量,并可通過光標測量抖動和頻率。測量帶限積分抖動,并可設(shè)置頻率門控測量(本例中為PCI Express 2.0抖動頻譜預設(shè)帶限和積分抖動測量)。
抖動頻譜測量
減輕接收器測試的壓力
隨著網(wǎng)絡(luò)的發(fā)展,接收機的測試也面臨著新的挑戰(zhàn)。雖然誤碼率 (BER) 和接收機靈敏度等測試仍然重要,但接收機抖動容限已發(fā)展得更加貼近實際應(yīng)用,尤其適用于抖動受限的系統(tǒng),例如通過背板傳輸 10 Gb/s 數(shù)據(jù)以及新型高速總線。應(yīng)力眼圖測試作為一種合規(guī)性測量方法,在許多標準中正變得越來越普遍。此外,工程師們還利用應(yīng)力眼圖測試來探索接收機的性能極限,從而檢查設(shè)計和制造中的裕量。
過去,要為符合復雜標準(例如 PCIe 2.0)的接收機測試創(chuàng)建應(yīng)力方案,需要將多臺儀器“組裝堆疊”,然后花費數(shù)小時進行校準。而 BERTScope 提供了一個易于理解的圖形界面,讓您可以在同一臺儀器內(nèi)控制所有需要的校準應(yīng)力源。無需外部電纜、混頻器、耦合器、調(diào)制器等,大大簡化了應(yīng)力校準過程。
壓力眼視圖
柔性應(yīng)力損傷
BERTScope 內(nèi)置了高質(zhì)量的校準應(yīng)力源,包括 RJ、SJ、BUJ 和 SI。
ISI也是許多標準中的常見組成部分。BSA12500ISI差分ISI板卡提供多種路徑長度,且無開關(guān)損耗和異常情況。
柔性應(yīng)力損傷
許多標準要求將 SJ 信號按模板逐步測試,模板包含不同幅度和特定調(diào)制頻率的 SJ 信號。使用內(nèi)置的抖動容差功能可以輕松實現(xiàn)這一點,該功能可以自動逐步測試您設(shè)計的模板或庫中的眾多標準模板之一。
內(nèi)置抖動容限功能
BERTScope模式生成器
BERTScope 模式生成器提供全方位的 PRBS 模式、常用標準模式和用戶自定義模式。
STR 選件提供完全集成的校準應(yīng)力生成功能,無需使用一整套手動校準的儀器即可生成應(yīng)力測試圖,是一種簡便易用的替代方案。其用途包括對具有內(nèi)部誤碼率 (BER) 測量功能的設(shè)備(例如 DisplayPort)進行接收機測試,或為傳統(tǒng)的 BERT 儀器添加應(yīng)力測試功能。
緩解眼部疲勞
模式捕獲
處理未知輸入數(shù)據(jù)有多種方法。除了上文討論的實時數(shù)據(jù)分析之外,所有 BERTScope 分析器都具備一個實用的標準功能——模式捕獲。用戶可以指定重復模式的長度,然后分析器會利用檢測器的 128 MB RAM 內(nèi)存捕獲指定的輸入數(shù)據(jù)。捕獲到的數(shù)據(jù)可以用作新的檢測器參考模式,也可以編輯后保存以供后續(xù)使用。
模式捕獲
利用誤差分析的力量——在以下示例中,眼圖視圖與誤碼率 (BER) 相關(guān)聯(lián),以識別并解決存儲芯片控制器中的一個設(shè)計問題。眼圖(左上)顯示交叉區(qū)域存在一個意外特征,其出現(xiàn)頻率低于主眼圖。移動 BER 決策點以探究這些不常見事件,揭示了問題的本質(zhì)。誤差分析表明,這些特征與數(shù)字 24 存在某種關(guān)聯(lián)。進一步調(diào)查發(fā)現(xiàn),異常源于集成電路 (IC) 內(nèi)部的時鐘突破;系統(tǒng)時鐘頻率僅為輸出數(shù)據(jù)速率的 1/24。通過重新設(shè)計芯片,提高時鐘路徑隔離度,得到了右上眼圖所示的清晰波形。
誤差分析示例
模式生成器 壓力眼
模式生成器的受壓眼功能提供以下特性:
靈活、集成的眼部疲勞損傷輔助裝置,可與內(nèi)置或外置時鐘配合使用
設(shè)置簡便,對用戶隱藏了復雜性,且不損失靈活性。
使用 BERTScope 和外部 ISI 濾波器驗證是否符合多種標準。這些標準包括:
OIF CEI
6Gb SATA
PCI Express
111
USB 3.1
SONET
SAS 2
XAUI
10Gb 和 100Gb 以太網(wǎng)
DisplayPort
正弦干擾可以同相或反相插入,也可以從外部發(fā)送,經(jīng)過外部 ISI 參考通道后進行疊加。
根據(jù) OIF CEI 的要求,正弦抖動可以在兩個同相或反相的 BERTScope 之間鎖定。
振幅和ISI損傷
對于 ISI,可以添加外部措施:例如,增加同軸電纜長度,或者使用 -3 dB 點位于比特率 0.75 處的貝塞爾-湯姆遜 4 階濾波器等。
對于需要電路板分散的應(yīng)用,可以使用 BSA12500ISI 差分 ISI 附件板。
正弦干擾
支持 BERTScope 的全數(shù)據(jù)速率范圍。
100 MHz 至 2.5 GHz
以 100 kHz 為步長進行調(diào)節(jié)
可調(diào)范圍為 0 至 400 mV
共?;虿钅?/p>
可通過后面板的 50 Ω SMA 連接器輸出,單端信號,數(shù)據(jù)幅度可在 0 至 3 V 范圍內(nèi)通過圖形用戶界面 (GUI) 調(diào)節(jié),頻率范圍和步長與內(nèi)部調(diào)節(jié)相同。
抖動測量
多千兆位串行數(shù)據(jù)通道的眼圖張開寬度僅為幾百皮秒甚至更小。在抖動僅為幾皮秒的系統(tǒng)中,精確測量抖動對于嚴格控制抖動預算至關(guān)重要。BERTScope 包含兩套工具,用于執(zhí)行這些關(guān)鍵測量。
物理層測試套件選項包括使用公認的雙狄拉克方法測量總抖動 (TJ),并將其分解為隨機抖動 (RJ) 和確定性抖動 (DJ)。與示波器進行抖動測量相比,BERT 收集的深度測量數(shù)據(jù)使用的外推量要少幾個數(shù)量級,甚至在某些情況下無需外推。因此,與依賴高外推量的其他儀器相比,這種方法能夠產(chǎn)生更精確的結(jié)果。
符合MJSQ標準的雙狄拉克抖動測量。
可選的抖動圖 (Jitter Map) 是 BERTScope 最新提供的抖動測量套件。它提供了一套全面的子分量分析,超越了 RJ 和 DJ,包括許多符合更高數(shù)據(jù)速率標準的測量。抖動圖還可以測量和分解極長模式(例如 PRBS-31)以及實時數(shù)據(jù)(需要啟用實時數(shù)據(jù)分析選項)上的抖動,前提是它能夠先在較短的同步數(shù)據(jù)模式上運行。
抖動圖
功能包括:
DJ抖動可分解為有界非相關(guān)抖動(BUJ)、數(shù)據(jù)相關(guān)抖動(DDJ)、符號間干擾(ISI)、占空比失真(DCD)和次速率抖動(SRJ),其中包括F/2(或F2)抖動。
基于誤碼率 (BER) 的直接(非外推)總抖動 (TJ) 測量,誤碼率可達 10?12及以上
分離相關(guān)和非相關(guān)抖動分量可以避免將長模式 DDJ 誤認為 RJ。
只需睜開眼睛即可測量抖動
其他儀器無法提供的額外細分級別包括:強調(diào)抖動 (EJ)、非相關(guān)抖動 (UJ)、數(shù)據(jù)相關(guān)脈沖寬度收縮 (DDPWS) 和非碼間干擾 (Non-ISI)。
直觀易用的抖動樹
對實時數(shù)據(jù)進行抖動峰值和誤碼率輪廓測量。
靈活的外部抖動接口
靈活的外部抖動接口包含以下功能:
前面板外部高頻抖動輸入接口——可添加頻率范圍從直流到 1.0 GHz、最大 0.5 UI 的抖動信號,抖動類型不限,但需滿足幅度和頻率限制。
后面板外部 SJ 低頻抖動輸入連接器——可添加直流至 100 MHz、最大 1 ns 的抖動。
后面板 SJ 輸出
正弦干擾輸出后面板連接器
內(nèi)部 RJ、BUJ 和外部高頻抖動輸入的總和限制為 0.5 UI,當兩者同時啟用時,每個輸入進一步限制為 0.25 UI。后面板低頻抖動輸入可用于施加額外的抖動;外部低頻抖動、內(nèi)部低頻 SJ(最高 10 MHz)、PCIe LFRJ 和 PCIe LFSJ(帶選件 PCISTR)的總和限制為 1.1 ns。此限制不適用于選件 XSSC 的相位調(diào)制 (PM)。
抖動損傷
有界非相關(guān)抖動:
支持 1.5 至 12.5 Gb/s (BSA125C)、17.5 Gb/s (BSA175C) 和 28.6 Gb/s (BSA286CL) 的數(shù)據(jù)速率,但性能受限于 622 Mb/s (BSA286CL 除外)。
內(nèi)部PRBS生成器
可變,最高可達 0.5 UI
100 Mb/s 至 2.0 Gb/s
通過選定的濾波器進行帶寬限制
BUJ利率 篩選
100 至 499 25兆赫
500 至 999 50 MHz
1,000 至 1,999 100兆赫
2,000 200兆赫
隨機抖動:
支持 1.5 至 12.5 Gb/s (BSA125C)、17.5 Gb/s (BSA175C) 和 28.6 Gb/s (BSA286CL) 的數(shù)據(jù)速率,但性能受限于 622 Mb/s (BSA286CL 除外)。
可變,最高可達 0.5 UI
帶寬限制為 10 MHz 至 1 GHz
峰值因子為 16(高斯分布,至少符合 8 個標準差,或概率 約為 1×10 –16 )
正弦抖動
數(shù)據(jù)速率 內(nèi)部 SJ 頻率 最大內(nèi)部 SJ 幅度
最高可達 12.5 Gbps (BSA125C) 或 17.5 Gbps (BSA175C) 1 kHz 至 10 MHz 1 1100 馬力
10 MHz 至 100 MHz 200 磅
最高可達 28.6 Gb/s (BSA286CL) 1 kHz 至 100 MHz 1100 ps 2 270 ps 3
SJ 可調(diào)范圍為 0 至大于或等于表格中所示范圍的水平。有關(guān)更多 SJ 功能,請參閱“其他應(yīng)力選項”。
1可與其他低頻調(diào)制方式結(jié)合使用。
2全功率 SJ 射程為 270 ps,而 RJ 或 BUJ 射程則縮減至 220 ps。
3.量程可在 1100 ps 至 270 ps 之間選擇;量程越低,固有抖動越小。
測試接口卡
終于,解決了長期以來在高速線路卡、主板和實時流量上進行物理層測量的難題——BERTScope 實時數(shù)據(jù)分析選項。該儀器創(chuàng)新性地運用了雙判決點架構(gòu),除了標準的眼圖和掩碼測量外,還能進行抖動、誤碼率輪廓和 Q 因子等參數(shù)測量——只需一個時鐘信號即可。添加抖動圖選項,即可查看實時數(shù)據(jù)中更多層次的抖動分解。從此告別因模式未知、不可預測或涉及速率匹配字插入而導致的挫敗感。現(xiàn)在,只需一鍵即可完成物理層測試,從而獲得獨特的洞察,故障排除也變得更加輕松。
使用 USB3 儀器開關(guān)
BSASWITCH 儀器開關(guān)是一款靈活的設(shè)備,可用于通用應(yīng)用,并專門用于 USB 3.1 合規(guī)性測試。在 USB 3.1 測試中,該開關(guān)配備了一個模式發(fā)生器,用于生成低頻周期信號 (LFPS),以確保設(shè)備實現(xiàn)環(huán)回。其他功能包括:
通過前面板控件手動切換通道
通過 USB 實現(xiàn)自動控制
靈活的觸發(fā)方式,提供多種控制選擇
兩個主輸入通道(通道 1、通道 2),模擬帶寬大于 10 GHz。
單端轉(zhuǎn)差分輸入通道,方便在測試裝置中添加低頻信號發(fā)生器
無需額外外部電源,即可通過 USB 進行控制和供電。
BSASWITCH 儀器開關(guān)
用戶界面
用戶界面將可用性提升到了新的高度:
輕松導航
邏輯布局和操作
多種屏幕切換方式
相關(guān)信息就在您需要的地方
顏色編碼用于提醒您注意非標準情況。
用戶界面設(shè)置屏幕
使用編輯器屏幕可以編輯標準和 AB 頁面選擇圖案、編輯遮罩以及執(zhí)行其他任務(wù):
以二進制、十進制或十六進制顯示
支持變量賦值、重復循環(huán)和偽隨機二進制序列 (PRBS) 模式的種子設(shè)定
捕獲和編輯傳入數(shù)據(jù)——例如,從真實世界的交通數(shù)據(jù)中提取重復模式
捕獲方式可以是按觸發(fā)器、按長度或按觸發(fā)器后的長度。
捕獲數(shù)據(jù)的方式是按數(shù)字或字進行,1 個字為 128 位。例如,一個 PRBS-7 編碼(127 位長)將被捕獲為 127 個字,總長度為 16,256 位。
編輯器屏幕
BERTScope 內(nèi)置參數(shù)測量
所有 BERTScope 均標配眼圖和掩模測試功能以及誤差分析功能。
眼部結(jié)構(gòu)圖:
280×350像素波形顯示器
深度收購
自動測量功能包括:
上升時間
秋季
單位間隔(數(shù)據(jù),以及時鐘)
眼振幅
噪音等級為 1 或 0
眼寬
視線高度
眼動抖動(pp 和 RMS)
0級,1級
滅絕率
垂直眼瞼閉合懲罰(VECP)
暗校準
信噪比
Vp -p、Vmax 、 Vmin 、交叉水平
上升和下降的交叉水平(皮秒)
超調(diào) 0 級和 1 級
平均電壓/功率
交叉振幅、噪聲等級 1 或 0、電壓
光調(diào)制幅度(OMA)
樣本計數(shù)
偏移電壓
去強調(diào)法
口罩檢測:
標準掩碼庫(例如 XFP 或編輯自定義掩碼)
添加正或負掩模邊緣
導入測得的誤碼率輪廓作為過程控制掩模
至少比傳統(tǒng)采樣示波器掩模的采樣深度高 1000 倍,是確保不會出現(xiàn)罕見事件現(xiàn)象的理想選擇。
光學單元:
BERTScope探測器的輸入端可以連接外部光接收器。通過用戶界面,可以輕松輸入并保存接收器的特性參數(shù)。設(shè)置完成后,物理層顯示屏上的相關(guān)單位將轉(zhuǎn)換為光功率(dBm、μW 或 mW)。耦合方式可以是交流電或直流電,軟件會引導用戶完成暗校準。
對于電信號,當使用外部衰減器時,可以輸入衰減值來正確縮放眼圖和測量結(jié)果。
可變深度眼部和面罩測試:
對于眼圖和掩模測試,測試深度可在手動模式下調(diào)節(jié);儀器將采集指定數(shù)量的波形后停止。范圍為 2,000 至 1,000,000 位(完整波形)。或者,默認模式為連續(xù)模式,眼圖或掩模測試的深度會隨時間增加。
物理層測試選項
可提供以下物理層測試選項:
誤碼率輪廓測試
采用與眼圖測量相同的采集電路,以實現(xiàn)最大相關(guān)性。
根據(jù)需要進行延遲校準,以獲得精確的點位。
自動縮放,一鍵測量
通過測量數(shù)據(jù)外推輪廓,隨著運行時間的增加增加測量深度,并不斷更新曲線擬合。
輕松導出擬合數(shù)據(jù)為 CSV 格式
輪廓尺寸從10-6到 10-16,以十年為單位 遞增。
基本抖動測量
采用 T11.2 MJSQ BERTScan 方法(也稱為“浴缸抖動”)進行測試
深度測量,可快速準確地外推用戶指定級別的總抖動,或進行直接測量
MJSQ 中定義的隨機成分和確定性成分的分離
根據(jù)需要進行延遲校準,以獲得精確的點位。
以 CSV 格式導出點
一鍵輕松測量
用戶指定的幅度閾值級別,或自動選擇
可選擇起始誤碼率 (BER) 以提高使用長模式時的精度,如 MJSQ 中定義。
Q因子測量
一鍵測量眼睛中心垂直橫截面尺寸
系統(tǒng)噪聲效應(yīng)的簡易可視化
以 CSV 格式導出數(shù)據(jù)
順應(yīng)性輪廓
驗證發(fā)射機眼圖性能是否符合 XFP/XFI 和 OIF CEI 等標準
將合規(guī)性掩碼疊加到測量的誤碼率 (BER) 輪廓上,即可輕松查看設(shè)備是否達到指定的 BER 性能水平。
實時數(shù)據(jù)分析選項
實時數(shù)據(jù)分析選項旨在測量未知或非重復流量的參數(shù)性能。這包括插入空閑位的流量,例如在時鐘頻率匹配系統(tǒng)中。它也適用于探測線路卡。
該方案利用兩個前端判決電路中的一個,通過將每個比特放置在眼圖中心來判斷它是 1 還是 0。然后,另一個電路用于探測眼圖邊緣,以評估參數(shù)性能。這種方法對于物理層問題非常有效,但無法識別由于協(xié)議問題導致的邏輯問題,例如本應(yīng)發(fā)送 1 卻發(fā)送了 0。
可以使用誤碼率輪廓、抖動峰值、抖動圖和Q因子進行實時數(shù)據(jù)測量。如果存在同步時鐘,則無需使用此選項即可對實時數(shù)據(jù)進行眼圖測量。
實時數(shù)據(jù)分析選項需要物理層測試選項,并且必須與全速率時鐘一起使用。
PatternVu均衡處理選項
PatternVu 1為 BERTScope 增加了幾個強大的處理功能:
CleanEye 是一種眼圖顯示模式,它通過對波形數(shù)據(jù)進行平均處理,去除與數(shù)據(jù)無關(guān)的抖動,從而生成更清晰的眼圖。這使得用戶可以查看和測量與數(shù)據(jù)相關(guān)的抖動,例如符號間干擾,并直觀地了解可補償?shù)亩秳?。該模式適用于長度不超過 32,768 位的任何重復模式。
單值波形導出工具可將 CleanEye 的輸出轉(zhuǎn)換為逗號分隔向量 (CSV) 格式的導出文件。該輸出文件最多可包含 105 位數(shù)據(jù),并可導入 Microsoft Excel 或 Stateye、MATLAB? 等軟件分析和仿真工具。這使得用戶能夠?qū)嶋H采集的數(shù)據(jù)進行離線濾波,并實現(xiàn)基于標準的處理,例如 802.3aq(最新的長距離多模 (LRM) 10 Gb 以太網(wǎng)標準)要求的發(fā)射機波形色散懲罰 (TWDP)。
FIR濾波器均衡處理器通過在顯示數(shù)據(jù)之前對其應(yīng)用軟件線性濾波器,模擬通信信道,從而像接收機中的檢測器一樣觀察和測量眼圖。例如,F(xiàn)IR濾波器可用于模擬背板信道的損耗效應(yīng),或者模擬接收機的均衡濾波器,從而簡化接收端均衡的設(shè)計和特性分析。
通過輸入FIR濾波器中一系列抽頭的各個加權(quán)系數(shù)來控制濾波器特性。最多可以設(shè)置32個抽頭,抽頭間距從0.1到1.0個單位間隔(UI)不等,從而實現(xiàn)對濾波器形狀的精細控制。FIR濾波器可應(yīng)用于長度達32,768位的重復模式。
單邊沿抖動測量功能允許對數(shù)據(jù)速率高于 3 Gb/s 的單個數(shù)據(jù)邊沿進行真正深度的基于誤碼率 (BER) 的抖動測量。單邊沿抖動峰值測量功能允許用戶計算重復模式中單個邊沿的抖動,該模式長度可達 32,768 位。由此得到的抖動測量結(jié)果排除了數(shù)據(jù)相關(guān)效應(yīng),僅顯示不相關(guān)的抖動分量,例如隨機抖動 (RJ)、有界不相關(guān)抖動 (BUJ) 和周期性抖動 (PJ)。
靈活的測量功能使用戶能夠精確指定CleanEye波形中用于準確測量振幅、上升時間和下降時間以及去加重比的部分。此外,還預置了適用于PCI Express和USB 3.1等標準的公式。
1 PatternVu 的數(shù)據(jù)傳輸速率為 900 Mb/s 及以上。
誤差分析
錯誤分析是一系列強大的視圖,它將錯誤事件關(guān)聯(lián)起來,從而可以輕松發(fā)現(xiàn)潛在的模式。可以輕松地聚焦于眼圖的特定部分,將 BERTScope 的采樣點移動到該位置,然后探測該精確位置出現(xiàn)的模式敏感性。例如,可以直接檢查哪些模式導致了延遲邊緣或提前邊緣。
BERTScope 系列產(chǎn)品標配多種視圖:
錯誤統(tǒng)計:以表格形式顯示比特錯誤和突發(fā)錯誤計數(shù)及速率
錯誤統(tǒng)計視圖,顯示鏈路性能(以比特和突發(fā)事件次數(shù)衡量)。
條形圖:比特錯誤率和突發(fā)錯誤率的條形圖
條形圖視圖顯示比特錯誤率和突發(fā)錯誤率隨時間的變化情況。這在進行故障排除時,例如溫度循環(huán)測試時,非常有用。
突發(fā)長度:不同長度錯誤發(fā)生次數(shù)的直方圖
無誤差區(qū)間:不同無誤差區(qū)間出現(xiàn)次數(shù)的直方圖
相關(guān)性:顯示錯誤位置與用戶設(shè)置的塊大小或外部標記信號輸入之間相關(guān)性的直方圖
模式靈敏度:測試模式中每個比特序列位置的錯誤數(shù)直方圖
塊錯誤:顯示數(shù)據(jù)區(qū)間(用戶設(shè)置的塊大?。┲绣e誤數(shù)量變化情況的直方圖。
模式敏感性視圖是一種強大的工具,可用于檢查錯誤事件是否與模式相關(guān)。它能顯示哪些模式序列問題最大,并支持偽隨機二進制序列 (PRBS) 和用戶自定義模式。
錯誤分析選項
前向糾錯仿真
由于 BERTScope 擁有專利的錯誤定位能力,因此它能夠精確地知道測試過程中每個錯誤發(fā)生的位置。通過模擬塊糾錯碼(例如 Reed-Solomon 架構(gòu))中典型的存儲塊,可以將來自未糾錯數(shù)據(jù)通道的誤碼率數(shù)據(jù)通過假想的糾錯器,從而了解所提出的前向糾錯 (FEC) 方法的效果。用戶可以設(shè)置糾錯強度、交織深度和擦除能力,以匹配常用的硬件糾錯架構(gòu)。
二維誤差映射
此分析方法可生成測試過程中發(fā)現(xiàn)的錯誤位置二維圖像。基于數(shù)據(jù)包大小或多路復用器寬度的錯誤映射可以顯示錯誤是否更容易出現(xiàn)在數(shù)據(jù)包的特定位置或連接到多路復用器的并行總線上的特定位。這種可視化工具允許人眼進行關(guān)聯(lián),這通常可以揭示即使使用所有其他錯誤分析技術(shù)也很難發(fā)現(xiàn)的錯誤關(guān)聯(lián)。
錯誤位置捕獲
特征 描述
實時分析 連續(xù)的
錯誤日志記錄能力 最大文件大小為 2 GB
每秒錯誤事件數(shù) 10,000
最大突發(fā)長度 32 KB
抖動容差模板選項
許多標準要求將 SJ 信號按模板逐步測試,模板包含不同幅度和特定調(diào)制頻率的 SJ 信號。使用內(nèi)置的抖動容差功能可以輕松實現(xiàn)這一點,該功能可以自動逐步測試您設(shè)計的模板或庫中的眾多標準模板之一。
標準模板庫:
10GBASE LX4 802.3ae 3.125 Gb/s
10 GbE 802.3ae 10.3125 Gb/s
40 GbE 802.3ba LR4 10.3125 Gb/秒
100 GbE 802.3ba LR4/ER4 25.78125 Gb/秒
CEI 11G 數(shù)據(jù)通信接收入口 (D) 11 Gb/s
CGE電信接收出口(Re)11 Gb/s 1
CEI 11G 電信接收入口 (Ri) 11 Gb/s 1
CEI 11G 總游走速率 11.1 Gb/s
CEI 11G 總游走 9.95 Gb/s
CEI 6G 總漫游速率 4,976 Gb/s
CEI 6G 總漫游 6,375 Gb/s
CEI 25G 總漫游速度 25.78125 Gb/s
FBB DIMM1 3.2 Gb/s
FBB DIMM1 4.0 Gb/s
FBB DIMM1 4.8 Gb/s
FBB DIMM2 3.2 Gb/s
FBB DIMM2 4.0 Gb/s
FBB DIMM2 4.8 Gb/s
光纖通道 1.0625 Gb/s
光纖通道 2.125 Gb/s
光纖通道 4.25 Gb/s
8G光纖通道 8.5 Gb/s
光纖通道 16G 14.025 Gb/s
OTN OTU-1 2.666G 1
OTN OTU-2 10.709 Gb/s
OTN(10BASE-R)11.1 Gb/s
SAS (SCSI) 1.5 Gb/s
SAS (SCSI) 3 Gb/s
SDH 0.172 STM-1 155M 1
SDH 0.172 STM-16 2.4832 Gb/s 1
SDH 0.172 STM-4 622 Mb/s 1
SDH 0.172 STM-64 9.956 Gb/s 1
SDH STM-16 2.48832 Gb/s 1
SDH STM-64 9.9532 Gb/s 1
SONET OC-48 2.48832 Gb/s 1
SONET OC12 622 Mbps 1
SONET OC192 9.9532 Gb/s 1
SONET OC192 9.95 Gb/s 1
SONET OC3 155 Mb/s 1
SONET OC48 2.4832 Gb/s 1
USB 3.1 5 和 10 Gb/s
XAUI 3.125 Gb/s
XFI ASIC Rx 輸入數(shù)據(jù)通信 (D) 10.3125 Gb/s
XFI ASIC Rx 輸入數(shù)據(jù)通信 (D) 10.519 Gb/s
電信中的 XFI ASIC Rx (D) 10.70 Gb/s
電信中的 XFI ASIC Rx (D) 9.95328 Gb/s 1
XFI 主機接收數(shù)據(jù)通信 (C) 10.3125 Gb/s
XFI 主機接收數(shù)據(jù)通信 (C) 10.519 Gb/s
電信中的 XFI 主機接收 (C) 10.70 Gb/s 1
電信中的 XFI 主機接收 (C) 9.95328 Gb/s 1
XFI 模塊 Tx 輸入數(shù)據(jù)通信 (B') 10.3125 Gb/s
XFI 模塊 Tx 輸入數(shù)據(jù)通信 (B') 10.519 Gb/s
XFI 模塊 Tx 輸入電信 (B') 10.70 Gb/s 1
電信中的 XFI 模塊 Tx (B') 9.95328 Gb/s 1
需要調(diào)整的方面包括:
誤碼率置信度
每點測試時長
誤碼率閾值
測試裝置松弛時間
在模板上施加百分比邊距
測試精度控制 A/B 模式切換行為
此外,還包括超越模板進行測試的功能,以在每個選定點測試設(shè)備故障,以及將數(shù)據(jù)導出為屏幕圖像或 CSV 文件的功能。
1需要選項 XSSC。
抖動映射選項
抖動圖1選項提供基于長模式抖動三角測量的自動抖動分解。它將基于誤碼率的抖動分解擴展到雙狄拉克測量的總抖動 (TJ)、隨機抖動 (RJ) 和確定性抖動 (DJ) 之外,涵蓋了一系列更全面的子分量。它還可以測量和分解極長模式(例如 PRBS-31)上的抖動,前提是它能夠先在較短的同步數(shù)據(jù)模式上運行。
該選項包含以下功能:
DJ 抖動可分解為有界非相關(guān)抖動 (BUJ)、數(shù)據(jù)相關(guān)抖動 (DDJ)、符號間干擾 (ISI)、占空比失真 (DCD) 和次速率抖動 (SRJ) 2,其中包括 F/2 (或 F2) 抖動。
基于誤碼率 (BER) 的直接(非外推)總抖動 (TJ) 測量,誤碼率可達 10?12及以上
分離相關(guān)和不相關(guān)的抖動分量可以避免將長模式 DDJ 誤認為 RJ。
可視化在數(shù)據(jù)模式的各個邊緣測量的 RJ RMS
100 GbE 應(yīng)用的 J2 和 J9 抖動測量
其他儀器無法提供的額外細分級別包括:強調(diào)抖動 (EJ)、非相關(guān)抖動 (UJ)、數(shù)據(jù)相關(guān)脈沖寬度收縮 (DDPWS) 和非 ISI。
直觀易用的抖動樹
1抖動映射以 900 Mb/s 及以上的數(shù)據(jù)速率運行。
2 SRJ 和 F/2 抖動最高可達 11.2 Gb/s (BSA125C、BSA175C、BSA286CL)。
壓力實時數(shù)據(jù)選項
BERTScope Stressed Live Data 軟件選項允許工程師向真實數(shù)據(jù)流量中添加各種類型的壓力,從而使用代表設(shè)備部署后將遇到的環(huán)境的比特序列來測試設(shè)備的性能。使用添加壓力的實時流量可以測試設(shè)備的性能極限,并在設(shè)備出貨前增強其設(shè)計的可靠性。
BERTScope 提供全范圍的校準應(yīng)力,包括正弦抖動 (SJ)、隨機抖動 (RJ)、有界非相關(guān)抖動 (BUJ)、正弦干擾 (SI)、F/2 抖動和擴頻時鐘 (SSC)。
數(shù)據(jù)速率支持最高可達 BERTScope 的最大值。
當傳輸速率低于 11.2 Gb/s 時需要全速率時鐘,高于 11.2 Gb/s 時需要半速率時鐘。
符號篩選選項
符號濾波能夠?qū)斎霐?shù)據(jù)流進行異步誤碼率測試,包括抖動容限測試,這些數(shù)據(jù)流中插入了不確定數(shù)量的時鐘補償符號,這在 8b/10b 編碼系統(tǒng)中很常見,當將其置于環(huán)回接收器測試中時。
支持 USB 3.1、SATA 和 PCI Express 的異步接收器測試
為了保持同步,系統(tǒng)會自動從傳入數(shù)據(jù)中過濾掉用戶指定的符號。
錯誤檢測器會記錄已過濾比特的數(shù)量,以便進行精確的誤碼率測量。

