關(guān)鍵性能指標(biāo)

模式生成與誤差分析，高速誤碼率測量，最高可達(dá) 28.6 Gb/s

用于精確信號完整性分析的快速輸入上升時間/高輸入帶寬誤差檢測器

物理層測試套件，包含掩模測試、抖動峰值、誤碼率輪廓和Q因子分析，可使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義的抖動容限模板庫進(jìn)行全面測試

結(jié)合誤碼率相關(guān)性的眼圖分析

可選的抖動圖全面抖動分解 - 適用于長模式（例如 PRBS-31）抖動

專利的“錯誤定位分析?”功能可幫助您快速了解誤碼率 (BER) 性能瓶頸，評估確定性錯誤與隨機(jī)錯誤，執(zhí)行詳細(xì)的模式相關(guān)錯誤分析、突發(fā)錯誤分析或無錯誤間隔分析。

主要特點(diǎn)

集成式、校準(zhǔn)式應(yīng)力生成裝置，可滿足各種標(biāo)準(zhǔn)對受壓接收機(jī)靈敏度和時鐘恢復(fù)抖動容限的測試要求。

正弦抖動高達(dá) 100 MHz

隨機(jī)抖動

有界、不相關(guān)的抖動

正弦干擾

擴(kuò)頻時鐘

PCIe 2.0 和 3.0 接收器測試

8xFC 和 10GBASE-KR 測試的 F/2 抖動生成

IEEE802.3ba 和 32G 光纖通道測試

電刺激眼部測試

PCI Express

10/40/100 Gb 以太網(wǎng)

SFP+/SFI

OIF/IEC

光纖通道（FC8、FC16、FC32）

小時

USB 3.1 

InfiniBand（SDR、QDR、FDR、EDR）

公差合規(guī)性模板測試及裕度測試

結(jié)合誤碼率相關(guān)性的眼圖分析

應(yīng)用程序

設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號完整性、抖動和時序分析

高速、復(fù)雜設(shè)計(jì)的特性分析

串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的認(rèn)證測試

高速I/O組件和系統(tǒng)的設(shè)計(jì)/驗(yàn)證

信號完整性分析——掩模測試、抖動峰值、誤碼率輪廓、抖動圖和Q因子分析

光收發(fā)器的設(shè)計(jì)/驗(yàn)證

鏈接域

眼圖一直以來都能以簡單直觀的方式展現(xiàn)數(shù)字性能。然而，由于用于呈現(xiàn)兩者性能的儀器在架構(gòu)上存在根本差異，因此很難將眼圖與誤碼率 (BER) 性能直接關(guān)聯(lián)起來。眼圖所包含的數(shù)據(jù)量較淺，難以發(fā)現(xiàn)罕見事件。而誤碼率測試儀 (BERT) 則對每個比特進(jìn)行計(jì)數(shù)，因此能夠基于更豐富的數(shù)據(jù)集提供測量結(jié)果，但卻缺乏直觀的信息呈現(xiàn)方式，不利于故障排除。